«Для области нанотехнологий существование стандартов калибровки приборов, которые измеряют высоту или профиль поверхности, это очень важная задача».

В дальнейшем на полученной поверхности физики выложили атомные слои-ступени, что дало им возможность разработать новый стандарт определения высоты.

«На данный момент в мире только одно место, где можно увидеть такую методику — здесь, в Институте физики полупроводников», — сказал ученый. Изначально целью работы было создание эталона гладкости поверхности и контроль за перестройкой атомов, происходящей при изменении структуры поверхности.

По словам специалистов, физикам удалось получить поверхности, которые абсолютно не содержат на себе слоев атомов — «атомных ступеней». Благодаря использованию сверхгладких поверхностей российским ученым удалось переоборудовать микроскоп и получить уникальное разрешение в 1 пикометр (триллионная часть метра).

«Мы создали эталонный объект, его зарегистрировали в Государственном реестре средств измерений РФ, он используется, в частности, производителями силовых микроскопов».

Отметим, что эталон создавался с помощью уникального сверхвысоковакуумного электронного микроскопа.